天津迈基尔科技-扫描电镜-北京扫描电镜

扫描电子显微镜sem分析原理：用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、x射线等并放大成象。谱图的表示方法：背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等。提供的信息：断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等。

扫描电子显微镜sem应用范围：

1、材料表面形貌分析，微区形貌观察

2、各种材料形状、大小、表面、断面、粒径分布分析

3、各种薄膜样品表面形貌观察、薄膜粗糙度及膜厚分析

扫描电子显微镜样品制备比透射电镜样品制备简单，不需要包埋和切片。

适当的工作距离的选择，可以得到的影像。较短的工作距离，电子讯号接收较佳，可以得到较高的分辨率，但是景深缩短。较长的工作距离，分辨率较差，北京扫描电镜，但是影像景深较长，表面起伏较大的样品可得到较均匀清晰的影像。sem样品若为金属或导电性---，则表面不需任何处理，扫描电镜价格，可直接观察。若为非导体，则需镀上一层金属膜或碳膜协助样品导电，扫描电镜，膜层应均匀无明显特征，以避免干扰样品表面。金属膜较碳膜容易镀，适用于sem影像观察，扫描电镜型号，通常为au或au-pd合金或pt。而碳膜较适于x微区分析，主要是因为碳的原子序低，可以减少x吸收。